
●ご使用中の欠陥検査装置の欠陥座標マップと連携させることができます。表示されたマップ上の欠陥をクリックするか欠陥IDを入力することで、欠陥場所へステージが移動します。簡単にマーキングを行い、SEMやFIB観察等の次のステップへスムーズに移行できます。
- ・スムーズに欠陥観察
- ・5種類のアライメント機能で位置決め精度を向上
- ・顕微鏡の制御も統合可能
- ・デジタルカメラ制御も統合可能
顕微鏡観察しながらターゲットにレーザでマーキングを行うシステムです。SEMやFIBで直接観察することが困難な欠陥やコンタミを光学顕微鏡の微分干渉観察や暗視野観察で検鏡しターゲット周辺にマーキングすることでストレスなくSEM/FIBによる測定を可能にします。基本システムは、光学顕微鏡をベースにレーザマーキング装置と自動XYステージを制御ソフトウエアで統合しターゲット周辺に自動で任意図形や文字をマーキングします。オプションとしてデジタルカメラ、顕微鏡の制御を追加し、さらに欠陥検査装置等の他装置のマップを共有しレビューするオプションも提供します。
●ご使用中の欠陥検査装置の欠陥座標マップと連携させることができます。表示されたマップ上の欠陥をクリックするか欠陥IDを入力することで、欠陥場所へステージが移動します。簡単にマーキングを行い、SEMやFIB観察等の次のステップへスムーズに移行できます。
●操作ウインドウ
●詳細加工ウインドウ
光学顕微鏡 | 各メーカー実績あり。ソフトウエア制御する場合は要打合せ。 |
---|---|
オリンパス:MX63L / MX61L / BX63M / BX51 | |
ニコン:L300N / L300ND /L200ND | |
ライカ:Leica DM12000 M | |
デジタルカメラ | 制御する場合はカメラリンク型を推奨。連動させない場合は種類問わず。 |
自動ステージ | メルツホイザー社SCANシリーズ及びSCAN plusシリーズ |
電動Zフォーカス | メルツホイザー社MFDシリーズ |
レーザマーキング装置 | フォトニックインストゥルメンツ・マイクロポイント |
除振台 | Vistek除振プラットフォーム、アクティブ除振台VAIS-45 |
システム構成は詳細お打ち合わせの上決定いたします。まずはご要望をお聞かせ下さい。
モニタのライブ上のターゲットをクリックすると自動XYステージが作動し、ターゲットを視野中心へ移動します。次にマーキングメニューからマスク十字を選ぶとターゲット周辺にマーキングされます。
>>>Download the instruction manual in Chinease
カタログダウンロード:光学顕微鏡自動レーザマーキングシステム キャラクターマーカー