顕微鏡下自動レーザマーキングシステム キャラクターマーカー
顕微鏡観察しながらターゲットにレーザでマーキングを行うシステムです。SEMやFIBで直接観察することが困難な欠陥やコンタミを光学顕微鏡の微分干渉観察や暗視野観察で検鏡しターゲット周辺にマーキングすることでストレスなくSEM/FIBによる測定を可能にします。基本システムは、光学顕微鏡をベースにレーザマーキング装置と自動XYステージを制御ソフトウエアで統合しターゲット周辺に自動で任意図形や文字をマーキングします。オプションとしてデジタルカメラ、顕微鏡の制御を追加し、さらに欠陥検査装置等の他装置のマップを共有しレビューするオプションも提供します。
特長
- ほとんどの正立/倒立顕微用へ取り付け可能です。
- ご使用中の顕微鏡へも後付可能です。
- マーキングと同時に検鏡可能です。
- 最小0.3umの微小マーキング。
- デジタルカメラ、電動顕微鏡の制御も可能です。(オプション)
- 欠陥検査装置の座標マップを利用してターゲット座標をレビュー(オプション)
- サンプル、目的により仕様を変更します。(オプション)
主なアプリケーション
- SEM観察前のマーキング。極力パーティクルの発生を抑えます。
- FIB加工による断面観察前のマーキング。位置精度も高いので微小ターゲットも見逃しません。
- ガラス下のターゲット周辺へのマーキング。
欠陥検査装置との座標データ共有(オプション)
制御ソフトウエア
製品構成
光学顕微鏡 | 各メーカー実績あり。ソフトウエア制御する場合は要打合せ。 |
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オリンパス:MX63L / MX61L / BX63M / BX51 | |
ニコン:L300N / L300ND /L200ND | |
ライカ:Leica DM12000 M | |
デジタルカメラ | 制御する場合はカメラリンク型を推奨。連動させない場合は種類問わず。 |
自動ステージ | メルツホイザー社SCANシリーズ及びSCAN plusシリーズ |
電動Zフォーカス | メルツホイザー社MFDシリーズ |
レーザマーキング装置 | フォトニックインストゥルメンツ・マイクロポイント |
除振台 | Vistek除振プラットフォーム、アクティブ除振台VAIS-45 |
システム構成は詳細お打ち合わせの上決定いたします。まずはご要望をお聞かせ下さい。
参考動画
モニタのライブ上のターゲットをクリックすると自動XYステージが作動し、ターゲットを視野中心へ移動します。次にマーキングメニューからマスク十字を選ぶとターゲット周辺にマーキングされます。
マニュアル
>>>Download the instruction manual in Chinease
カタログダウンロード
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