インライン・モニタリング・システム ThinProcess®
インライン・モニタリング・システム ThinProcess®
ThinProcess®は、ZEISSによって確立されたOPTOPLEX®シリーズの次のステージです。
このシステムによって提供される包括的なZEISSソリューションは大規模な表面コーティングプロセスを監視し、研究室レベルの精度で製品品質に関する情報を提供します。
ZEISSの最新ソフトウェアを使用することにより、システムは最新のZEISSプローブと統合することができます。 これらにより、生産ラインでダイレクトに「実験室的な確実性」の要件を満たします。
.jpg)
すべての大規模表面コーティングプロセスのインラインプロセスモニタリングのソリューションを提供
- 水平 or 垂直ガラスコーティング / Horizontal or vertical glass coating
- ロール to ロールフィルムコーティング / Roll-to-roll film coating
- 真空中 or 大気中 / In vacuum or atmosphere
●ThinProcess®ファミリーのすべてのシステム：
- ハードウェアに合わせて反射分光、透過、シート抵抗を測定
- スペクトルを利用して、色値（色空間）、コーティングの厚さ、およびその他の特性を計算
- 拡張可能なモジュール式
●ThinProcess®ファミリーの特長：
- 製造条件における最大精度
- 高い測定周波数
- すべてのアプリケーションに柔軟で使いやすいソフトウェアインターフェイス
- OPC DA、PROFIBUS、PROFINET、ETHERNET I / PなどのデジタルI / Oおよび
SQLデータベースを介した自動化レベルでの統合 - 生産ラインに沿ったすべてのアプリケーションの連続データおよび自動化モデル
- ZEISSによるスタートアップとトレーニング
ThinProcess® P
ThinProcess®Pは、コーティング工程の光学特性を測定するシングルまたはマルチチャンネル分光システムです。 個々の基板は自動的に識別され、そのギャップは自動トリガおよび参照に使用されます。 測定は真空または大気中で行うことができます。
●アプリケーション：
- 建築用ガラス
- 自動車用ガラス
- ディスプレイガラス
- ソーラーガラス
- 薄膜太陽電池
●特長：
○透過と反射スペクトル測定
（380nm - 1050 nm）
○下記の計算と分析が可能です：
- 色空間
- コーティング厚み
- コーティング分析
- スペクトル評価
- 吸光度 / 吸収率
- 太陽特性 (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
- バッチ統計、Cpk＆Cp
- 利用可能なスクリプト言語のアップグレード
●オプション：
○測定波長の拡張（365 nm - 1650 nm or 2150 nm）
（380nm - 1050 nm）
○シート抵抗測定
ThinProcess® Q
ThinProcess®Qは、最終製品の光学特性を測定するトラバース用分光システムです。このシステムは、最終製品の所定の位置を測定するための複数の自動スキャンモードを提供します。
●アプリケーション：
- 建築用ガラス
- 自動車用ガラス
- ディスプレイガラス
- ソーラーガラス
- 薄膜太陽電池
●特長：
○透過と反射スペクトル測定
（380nm - 1050 nm）
○下記の計算と分析が可能です：
- 色空間
- コーティング厚み
- コーティング分析
- スペクトル評価
- 吸光度 / 吸収率
- 太陽特性 (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
- バッチ統計、Cpk＆Cp
- 利用可能なスクリプト言語のアップグレード
●オプション：
○測定波長の拡張（365 nm - 1650 nm or 2150 nm）
○シート抵抗測定
○傾斜角55°での色測定
ThinProcess® R
ThinProcess®Rは、コーティング工程の光学特性を測定するシングルまたはマルチチャンネル分光システムです。 システムコントロールは、デジタルI / Oまたはフィールドバス信号を使用して、測定およびリファレンスをアクティブにします。 測定は真空または大気中で行うことがでます。
●アプリケーション：
- 建築用ガラス
- 自動車用ガラス
- ディスプレイガラス
- ソーラーガラス
- 薄膜太陽電池
●特長：
○透過と反射スペクトル測定
（380nm - 1050 nm）
○下記の計算と分析が可能です：
- 色空間
- コーティング厚み
- コーティング分析
- スペクトル評価
- 吸光度 / 吸収率
- 太陽特性 (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
- バッチ統計、Cpk＆Cp
- 利用可能なスクリプト言語のアップグレード
●オプション：
○測定波長の拡張（365 nm - 1650 nm or 2150 nm）
○シート抵抗測定
ThinProcess® WEB
ThinProcess®WEBは、コイルコーティングプラントの1つまたは複数のコーティング工程の光学特性を測定するシングルまたはマルチチャンネル分光計システムです。 測定方式は、機械の自動化計画に完全に統合することができます。 測定は真空または大気中で行うことができます。
●アプリケーション：
- パッケージ用フィルム
- ディスプレイ用フィルム
- 薄いガラス
- 金属ストリップ
- OLED、フレキシブルエレクトロニクス
- 薄膜太陽電池
- セキュリティー機能のホログラム
●特長：
○透過と反射スペクトル測定
（380nm - 1050 nm）
○下記の計算と分析が可能です：
- 色空間
- コーティング厚み
- コーティング分析
- スペクトル評価
- 吸光度 / 吸収率
- 太陽特性 (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
- バッチ統計、Cpk＆Cp
- 利用可能なスクリプト言語のアップグレード
●オプション：
○測定波長の拡張（365 nm - 1650 nm or 2150 nm）
○シート抵抗測定
Software
ThinProcess®ファミリーはThinProcess®ソフトウェアでサポートされています。
このフォーミュラベースのモニタリングソフトウェアを使用して、スペクトル特性の表示や色値、コーティング厚さなどの異なるコーティングパラメータを計算することができます。また、独自の計算や結果の表示方法を自由に設定することができます。 測定値は、値、傾向または分布として表示されます。
データはCSVファイルとSQLデータベースに格納されます。
●特長：
- 制限値を超えた場合の自動警告などの多様なアラーム機能（基準値や警告レベルの設定が可能）
- データ履歴モジュールオプション
- SCOUT（モデルベースのコーティング分析ソフトウェア）とケモメトリックモデルの統合
●可能な計算と分析：
- 色空間
- コーティング厚み
- コーティング分析
- スペクトル評価
- 吸光度 / 吸収率
- 太陽特性 (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
- バッチ統計、Cpk＆Cp
- 利用可能なスクリプト言語のアップグレード
※OPTOPLEX®は、Leybold Systems GmbHおよびApplied Materials GmbH＆Co. KGの商標です。
