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走査プローブ顕微鏡アタッチメントNANOS
顕微鏡の対物レンズ程の大きさ・形の、小型・高性能AFM/SPMスキャナーヘッドで、市販の光学顕微鏡の対物レボルバに取り付けることが出来ます。レボルバを回転させるだけで、完全なAFM/SPMのパワーにフル・アクセス可能です。NANOSと高性能光学検鏡のユニークな組み合わせは、表面構造解析の新しい可能性を与えてくれます。手順はとても簡単です。まず、顕微鏡の視野の中に測定目標の領域を導入して、レボルバを回転しNANOSに切り替え、自動アプローチ機能によりプローブを測定位置まで近づけます。これで、定量的な3次元形状データ(または数々の表面情報)を 手に入れることが出来ます。数分でナノメータースケールの情報を得ることが出来ます。
測定モード
- Contact Mode
- Oscillation Mode (Non-Contact, Intermittent Contact)
- Phase Contrast
- Magnetic Force (MFM)
- Electrostatic Force (EFM)
- Friction Force Mode (FFM)
- Force Modulation (SFM)
- Spreading Resistance (SSR)
- Conductive AFM (C-AFM)
- Surface Potential, Kelvin Probe (SSPM)
- Scanning Capacitance (SCM)
- Scanning Tunneling (STM)
- Frequency Modulation and Self-Excitation, Q-Control
- Spectroscopy, Force vs Distance, I-V Curves
- Lithography/Surface Manipulation
- Liquid Compatible Version
仕様
走査範囲 | 20um x 20um x 3um 40um x40 um x 4um 80um x 80um x 5um |
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ノイズレベル | サンプルテキスト。 |
横方向精度 | 1%以内(クローズドループ制御時) |
操作速度 | 0.1Hz~10Hz 可変 |
変位検出方法 | ファイバ式レーザー干渉計 |
走査チップ | ファイバ式レーザー干渉計 |
チップ交換 | シリコン・チップ 各種チップを準備 |
出力電圧 | アライメントチップ採用により、調整不要 |
画像サイズ | 128 X 128 ~ 4096 X 4096、自由選択 |
PCインターフェース | USB |