光学顕微鏡の対物レンズ・レボルバに取り付けて使用するAFM

TEL044-981-0025

※販売終了いたしました。メンテナンスや消耗品についてはご連絡ください。

走査プローブ顕微鏡アタッチメントNANOS

顕微鏡の対物レンズ程の大きさ・形の、小型・高性能AFM/SPMスキャナーヘッドで、市販の光学顕微鏡の対物レボルバに取り付けることが出来ます。レボルバを回転させるだけで、完全なAFM/SPMのパワーにフル・アクセス可能です。NANOSと高性能光学検鏡のユニークな組み合わせは、表面構造解析の新しい可能性を与えてくれます。手順はとても簡単です。まず、顕微鏡の視野の中に測定目標の領域を導入して、レボルバを回転しNANOSに切り替え、自動アプローチ機能によりプローブを測定位置まで近づけます。これで、定量的な3次元形状データ(または数々の表面情報)を 手に入れることが出来ます。数分でナノメータースケールの情報を得ることが出来ます。

測定モード

  • Contact Mode
  • Oscillation Mode (Non-Contact, Intermittent Contact)
  • Phase Contrast
  • Magnetic Force (MFM)
  • Electrostatic Force (EFM)
  • Friction Force Mode (FFM)
  • Force Modulation (SFM)
  • Spreading Resistance (SSR)
  • Conductive AFM (C-AFM)
  • Surface Potential, Kelvin Probe (SSPM)
  • Scanning Capacitance (SCM)
  • Scanning Tunneling (STM)
  • Frequency Modulation and Self-Excitation, Q-Control
  • Spectroscopy, Force vs Distance, I-V Curves
  • Lithography/Surface Manipulation
  • Liquid Compatible Version

仕様

走査範囲 20um x 20um x 3um
40um x40 um x 4um
80um x 80um x 5um
ノイズレベル サンプルテキスト。
横方向精度 1%以内(クローズドループ制御時)
操作速度 0.1Hz~10Hz 可変
変位検出方法 ファイバ式レーザー干渉計
走査チップ ファイバ式レーザー干渉計
チップ交換 シリコン・チップ 各種チップを準備
出力電圧 アライメントチップ採用により、調整不要
画像サイズ 128 X 128 ~ 4096 X 4096、自由選択
PCインターフェース USB
TOP